イグチ　ユキヒロ   Iguchi Yukihiro   井口　幸洋    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2002/01
形態種別	国際会議議事録
標題	A Method for Storing Fail Bit Maps in Burn-in Memory Testers
執筆形態	共著(筆頭者以外)
掲載誌名	Proc. of the The First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications
著者・共著者	A. Iseno and Y. Iguchi