| アリカワ シュウイチ
            ARIKAWA SHUICHI 有川 秀一 所属 明治大学 理工学部 職種 専任准教授 | |
| 言語種別 | 英語 | 
| 発行・発表の年月 | 2007 | 
| 形態種別 | 学術雑誌 | 
| 査読 | 査読あり | 
| 標題 | Application of Electronic Speckle Pattern Interferometry to High-speed Phenomena | 
| 執筆形態 | 共著(筆頭者) | 
| 掲載誌名 | Journal of Material Testing Research Association of Japan | 
| 巻・号・頁 | 52(3),pp.176-184 | 
| 著者・共著者 | S. Arikawa, J. A. Gaffney, K. Gomi, K. Ichinose, T. Ikeda, T. Mita, R. L. Rourks, C. Schneider and S. Yoshida |