|
イグチ ユキヒロ
Iguchi Yukihiro
井口 幸洋 所属 明治大学 理工学部 職種 専任教授 |
|
| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2004/04 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 標題 | Fault diagnosis for RAMs using Walsh spectrum |
| 執筆形態 | 共著(筆頭者以外) |
| 掲載誌名 | IEICE Trans. Information and Systems, |
| 巻・号・頁 | E87-D(No.3) |
| 著者・共著者 | Atsumu ISENO, Yukihiro IGUCHI, and Tsutomu SASAO |
| 概要 | 半導体メモリのフェイルビットマップを論理関数とみなし、それのWalshスペクトラムにより故障解析を行う方法を提案する。単一縮退故障の場合、Walshスペクトラムの0次と1次の項だけで故障の原因と位置を特定できることを示し、0次と1次の項を求めるハードウェア向きの高速な方法を提案している。 |