ツツミ　トシユキ   Tsutsumi Toshiyuki   堤　利幸    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	1999/05
形態種別	学術雑誌
標題	Highly Suppressed Threshold Voltage Roll-off Characteristics of the 4 nm-Thick SOI n-MOSFETs in the 40-135 nm Gate Length Regime(国際会議)
執筆形態	共著(筆頭者)
掲載誌名	The Electrochemical SocietyProceedings of the 9th International Symposium on SOI Technology and Devices, Seatle
巻・号・頁	pp.260-265
著者・共著者	◎Eiichi Suzuki* , Kenichi Ishii* , Seigo Kanemaru* , Tatsuro Maeda* , Toshiyuki Tsutsumi(助手) , Kiyoko Nagai* , Toshihiro Sekigawa* , Hiroshi Hiroshima*