ツツミ　トシユキ   Tsutsumi Toshiyuki   堤　利幸    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
言語種別	英語
発行・発表の年月	2000/11
形態種別	学術雑誌
標題	'Spectroscopic Ellipsometry Studies on Ultrathin hydrogenated Amorphous Silicon Films Prepared by Themal Chemical Vapor Deposition'(学会誌)
執筆形態	共著(筆頭者)
掲載誌名	The American Vacuum Society, the American Institute of PhysicsJapanese Journal of Applied Physics
巻・号・頁	Part1, Vol.39 №11,pp.6196-6201
著者・共著者	◎S. HAZRA*(ETL・STA fellow) , M.YAMANAKA*(ETL・主任研究員) , I. SAKATA*(ETL・主任研究員) , T, TSUTSUMI(助手) , T. MAEDA*(ETL・研究官) , E. SUZUKI*(ETL・主任研究官)