ヨコガワ　リョウ   YOKOGAWA RYO   横川　凌    所属   明治大学  理工学部    職種   助教
言語種別	英語
発行・発表の年月	2019/04
形態種別	学術雑誌
査読	査読あり
標題	Evaluations of minority carrier lifetime in floating zone Si affected by Si insulated gate bipolar transistor processes
執筆形態	共著(筆頭者以外)
掲載誌名	Japanese Journal of Applied Physics
掲載区分	国外
巻・号・頁	58(SB),pp.SBBD07-SBBD07
著者・共著者	Hiroto Kobayashi, Ryo Yokogawa, Kosuke Kinoshita, Yohichiroh Numasawa, Atsushi Ogura, Shin-ichi Nishizawa, Takuya Saraya, Kazuo Ito, Toshihiko Takakura, Shin-ichi Suzuki, Munetoshi Fukui, Kiyoshi Takeuchi, Toshiro Hiramoto