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ヨコガワ リョウ
YOKOGAWA RYO
横川 凌 所属 明治大学 理工学部 職種 助教 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2015/05 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | On the Origin of the Gate Oxide Failure Evaluated by Raman Spectroscopy |
| 執筆形態 | 共著(筆頭者) |
| 掲載誌名 | ECS Transactions |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 66(4),pp.237-243 |
| 著者・共著者 | Ryo Yokogawa, Motohiro Tomita, Toshikazu Mizukoshi, Takehiro Hirano, Kenichiro Kusano, Katsuhiro Sasaki, Atsushi Ogura |