オグラ アツシ
Ogura Atusi
小椋 厚志 所属 明治大学 理工学部 職種 専任教授 |
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発表年月日 | 2005/07 |
発表テーマ | Crystallinity Estimation of Strained-Si Wafers by Using Highly Parallel X-Ray Microbeam |
発表形式 | 口頭(一般) |
発表者・共同発表者 | 'The 8th International Conference on X-ray Microscopy (Himeji, Japan) ◎Y. Tsusaka, K. Fukuda, N. Tomita, K. Hayashi, Y. Kagoshima, J. Matsui and A. Ogura' |