オグラ　アツシ   Ogura Atusi   小椋　厚志    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
発表年月日	2004/07
発表テーマ	Crystalinity Estimate of Commercially Available Strained-Si Wafers using Synchrotron Highly Parallel X-ray Microbeam
発表形式	口頭（一般）
発表者・共同発表者	国際会議　　7th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging K.Fukuda, N.Tomita, Y.Tsusaka, Y.Kagoshima, J.Matsui