イグチ　ユキヒロ   Iguchi Yukihiro   井口　幸洋    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
発表年月日	1992/09/28
発表テーマ	大規模メモリの故障情報の一圧縮法
会議名	第４５回全国大会
主催者	情報処理学会
発表形式	口頭（一般）
単独共同区分	共同
発表者・共同発表者	内田剛，井口幸洋
概要	半導体メモリの大規模化に伴い,テストバーイン装置(以下ではこれを"テスタ"と呼ぶ)も大規模メモリを取り扱うようになってきた.テストの際,各メモリチップの良・不良の判定だけでなく,後で行う故障診断の為に全ての故障情報を記憶しておく必要があるが,この故障情報をそのまま記憶すると大量の記憶装置がテスタ内に必要となり現実的でない.そこで本稿では,この故障情報の圧縮法の提案をする.