オグラ アツシ
Ogura Atusi
小椋 厚志 所属 明治大学 理工学部 職種 専任教授 |
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発表年月日 | 2003/09 |
発表テーマ | Comparison of SOI Wafer Mappings between Photoluminescence Intensity and Photoconductive Decay Lifetime |
発表形式 | 口頭(一般) |
発表者・共同発表者 | 国際会議 International conference on Defects:Recognition,Imaging and Physics of Semiconductors Michio Tajima, Zhiqiang Li, Shingo Sumie, Hidehisa Hashizume |