オグラ　アツシ   Ogura Atusi   小椋　厚志    所属   明治大学  理工学部    職種   専任教授
発表年月日	1998/10
発表テーマ	Defect Characterization in UNIBOND Wafers by Pholumine scemce Spectroscopy and Transmission Electron Microscopy
発表形式	口頭（一般）
発表者・共同発表者	国際会議　IEEE International SOI Conference M.Tajima