ヨコガワ　リョウ   YOKOGAWA RYO   横川　凌    所属   明治大学  理工学部    職種   助教
発表年月日	2019/09/19
発表テーマ	XAFS測定を用いた低温下におけるSi基板上SiGe薄膜の局所構造評価
会議名	第80回応用物理学会秋季学術講演会
学会区分	全国学会
発表形式	口頭（一般）
単独共同区分	共同
発表者・共同発表者	吉岡 和俊, 横川 凌, 高橋 祐樹, 竹内 悠希, 広沢 一郎, 渡辺 剛, 小椋 厚志