ヨコガワ　リョウ   YOKOGAWA RYO   横川　凌    所属   明治大学  理工学部    職種   助教
発表年月日	2018/11/19
発表テーマ	Minority carrier lifetime degradation in FZ-Si by advanced Si-IGBT processes
会議名	The Forum on the Science and Technology of Silicon Materials 2018
学会区分	研究会・シンポジウム等
発表形式	ポスター
単独共同区分	共同
発表者・共同発表者	Hiroto Kobayashi, Ryo Yokogawa, Kosuke Kinoshita, Yohichiroh Numasawa, Atsushi Ogura, Shin-ichi Nishizawa, Takuya Saraya, Kazuo Ito, Toshihiko Takakura, Shin-ichi Suzuki4, Munetoshi Fukui, Kiyoshi Takeuchi, Toshiro Hiramoto