ヨコガワ　リョウ   YOKOGAWA RYO   横川　凌    所属   明治大学  理工学部    職種   助教
発表年月日	2018/09/13
発表テーマ	Evaluations of Minority Carrier Lifetime in FZ-Si Affected by Si-IGBT Processes
会議名	2018 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2018)
学会区分	国際学会
発表形式	ポスター
単独共同区分	共同
発表者・共同発表者	Hiroto Kobayashi, Ryo Yokogawa, Kosuke Kinoshita, Yohichiroh Numasawa, Atsushi Ogura, Shin-ichi Nishizawa, Takuya Saraya, Kazuo Ito, Toshihiko Takakura, Shin-ichi Suzuki, Munetoshi Fukui, Kiyoshi Takeuchi, Toshiro Hiramoto